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產品資訊 "OTU-KS-NV-004-004-G2"
- 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
- 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
- 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
| RoHS 符合性: | 是 |
|---|---|
| 交付状态: | 包括 nanoVTEP Gen2 |
| 产品组: | 开路测试 |
| 外部尺寸（宽x深x高）: | 4 x 4 x 48,7 mm |
| 宽度: | 4 mm |
| 替换套件 (WS): | WS Keysight |
| 最大温度: | 60 °C |
| 最小温度: | 10 °C |
| 真空测试治具 (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| 类型: | Keysight 无矢量测试 |
| 结构系列: | OTU |
| 行程: | 4 mm |
| 规格: | nanoVTEP Gen2 SP 0.16 英寸 |
| 配件类型: | 扩展配件 |
| 长度: | 4 mm |
| 高度: | 48,7 mm |
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产品详情
- 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
- 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
- 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
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